ဗာကျူမ်စားက်စ်ဘရိတ်ကာ (Vacuum Circuit Breaker) သည် ထိန်းသိမ်းမှုမရှိဘဲ ရှည်လျားသောကာလအထိ ယုံကြည်စိတ်ချရစွာ လုပ်ဆောင်နိုင်ပါသလား။

ဗာကျူမ် အားဖော်မှု- ဗာကျူမ် စီမ်းခြင်းမှု အိုင်းစီဘီများ၏ အသက်တာကြာရှည်မှုကို အများဆုံး အထောက်အပံ့ပေးသည့် အချက်

ဗာကျူမ်အဆင့်သည် ဆီလီကွန် ဒိုင်အီလက်ထရစ် အားကောင်းမှုကို ဆယ်စုနှစ်များစွာကြာမှုအထိ ထိန်းသိမ်းပေးနိုင်ခြင်း

အတွင်းပိုင်းဖိအားကို ၁၀^-၂ ပါစကယ် (Pa) နှင့် ထိုထက်ပိုမိုနိမ့်ကျသော အဆင့်များတွင် ထိန်းသိမ်းထားသည့်အခါ လျှပ်ကူးစွမ်းရည်ကို ထိခိုက်စေသည့် အီလက်ထရွန် အလွှာပေါင်းစုမှုများနှင့် အိုင်အွန်ဖြစ်စေသည့် အဆင့်ဆင့်ဖြစ်ပေါ်မှုများ ဖြစ်ပေါ်လာနိုင်ခြင်းမရှိပါ။ ဤအဆင့်များသော အလွန်နိမ့်သော ဗာကျူမ်အတွင်းတွင် ဓာတ်ငွေပုံစံများအကြား အကွာအဝေးသည် လျှပ်စီးကြောင်းများ ဖွဲ့စည်းရန် လုံလောက်စွာ ရှည်လျားပါသည်။ သုတေသနများအရ ၁၀^-၄ ပါစကယ် (Pa) အခြေခံဖိအားတွင် အလုပ်လုပ်ရန် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည့် ဗာကျူမ် စီးရှင်ဘရိတ်ကြီးများ (VCBs) သည် နှစ် ၃၀ ကြာပါက မူလ လျှပ်ကူးစွမ်းရည်၏ ၉၅ ရှိ အသုံးပြုနိုင်မှုကို ထိန်းသိမ်းနိုင်ပါသည်။ အလွန်နိမ့်သော ဖိအားတွင် လျှပ်ကူးစွမ်းရည် ထိန်းသိမ်းနိုင်ရခြင်း၏ အဓိကအကြောင်းရင်းများမှာ အီလက်ထရွန်များ ထိရောက်စွာ ပြန်လည်ဖြ рассеяние ဖြစ်ခြင်း၊ အိုင်အွန်ဖြစ်စေရန် လုံလောက်သည့် ဓာတ်ငွေပုံစံများ မရှိခြင်းနှင့် ထိရောက်သည့် ထိတ်တွေ့မှုစနစ် တည်ငြိမ်မှုရှိခြင်းတို့ဖြစ်ပါသည်။ ဤအခြေအနေများကို ထုတ်လုပ်သူများက ကိရိယာ၏ ထုတ်လုပ်မှုနှင့် အလုပ်လုပ်မှု စက်ဝန်းတစ်ခုလုံးအတွက် ဗာကျူမ်အဆင့်များကို သတ်မှတ်ပေးမှသာ ရရှိနိုင်ပါသည်။

စီရမစ်-သတ္ထု အလုပ်လုပ်မှုကောင်းသော အပိတ်အနှောင့်မှုများနှင့် ဂလပ်စ်-သတ္ထု အလုပ်လုပ်မှုကောင်းသော အပိတ်အနှောင့်များ၏ နှိုင်းယှဉ်မှု - အသုံးပြုမှုကာလအပေါ် သက်ရောက်မှု။ ခေတ်မှီ စီရမစ်နှင့် သတ္ထုများကို ချိတ်ဆက်ခြင်းသည် ဟီလီယမ် ရေစိမ်းမှုနှုန်း <10^-12 mbar·L/s အထိ ပထမဆုံးအကြိမ် အောင်မြင်စွာ ရရှိခဲ့ပါသည်။ ဤသည်မှာ ဂလပ်စ်အပိတ်အနှောင့်များထက် ၁၀၀ ကျော်ပိုမိုကောင်းမွန်သည့် အရေးကြီးသော အဆင့်တွင် ပြောင်းလဲမှုဖြစ်ပြီး ကိရိယာများ၏ အသက်ကြီးမှုဖြစ်စဉ်များကို နှေးကွေးစေပါသည်။

အလူမီနာ စီရမစ်များသည် အခြားအများစုသော ပစ္စည်းများနှင့် ကွဲပါသည်။ ၎င်းသည် အပိုင်းအစများကို ပူအေးပေးခြင်းဖြင့် ဖြစ်ပေါ်လာသော စက်မှုဖိအားကြောင့် ကွဲအက်မှုများကို မဖြစ်စေပါ။ ထို့ကြောင့် ကိရိယာ၏ လျော့နည်းသော လျော့နည်းသော ဖြတ်တောက်နိုင်မှုကို ပျက်စီးစေသည့် ဖိအားတိုးမှုကို ဖြစ်ပေါ်စေခြင်းမှုကို ကာကွယ်ပေးပါသည်။

အရေးကြီးသော ဗာကျူမ်ဆုံးရှုံးမှုကို ရှာဖွေခြင်း - လက်တော့အ်တွင် စုံစမ်းသော အနက် (10^-4 Pa) မှ လုပ်ကွက်တွင် ရှာဖွေနိုင်သည့် လက္ခဏာများအထိ

ဒြပ်ထု စပက်ထော်မေတ်ရီ ပါဝင်သည့် လက်တော့အ်စနစ်များတွင် ဖိအားသည် 10^-4 Pa အောက်သို့ ကျဆင်းလာပါက ဗာကျူမ်ပျက်စီးမှုကို ရှာဖွေနိုင်ပါသည်။ သို့သော် လုပ်ကွက်တွင် နည်းပညာပုဂ္ဂိုလ်များသည် တိက်တိက်ကွက်ကွက် တိုင်းတာမှုများကို အားကိုးခြင်းမှ ရှောင်ရှားပြီး လက္ခဏာများကို ရှာဖွေရန် လိုအပ်ပါသည်။
အစပိုင်းတွင် တိုင်းတာခဲ့သည့် တန်ဖိုး၏ ၂၅% ထက် ပိုမိုများပေါ်သော ဆက်သွယ်မှု ပိုမိုများပေါ်ခြင်းသည် စနစ်အတွင်းရှိ ကျန်ရှိသည့် ဓာတ်ငွေသေးငယ်သော အလွှာများမှ အလွှာတစ်ခု ဖွဲ့စည်းလာခြင်းကို ညွှန်ပေးပါသည်။ Cu အငွေ့ဖွဲ့စည်းမှုဖြစ်စဉ်ကို စီရီမစ်ပါဝါအစိတ်အပိုင်းများပေါ်တွင် ထူးခြားသော အရောင်များ ပေါ်ပေါက်လာခြင်းအဖြစ် စောင်းကြည့်နိုင်ပါသည်။ ထိုအရောင်များသည် ဒိုင်အီလက်ထရစ် ပျက်စီးမှု ဖြစ်ပေါ်လာနိုင်ခြင်းကို ညွှန်ပေးပါသည်။ ဖိအားသည် ၁၀^-၁ Pa ထက် ပိုမိုများပေါ်ပါက နှင့် ချိတ်ဆက်မှု လုပ်ဆောင်မှုများ ပြုလုပ်နေစဉ်တွင် လျှပ်စစ်ပေါက်ကွဲမှု ကြာချိန် တိုးမောင်းလာခြင်းကို စောင်းကြည့်နိုင်ပါသည်။ ထိုဖိအားအခြေအနေများအောက်တွင် ချိတ်ဆက်မှု လုပ်ဆောင်မှုများ ပြုလုပ်နေစဉ် လျှပ်စစ်ပေါက်ကွဲမှု ကြာချိန် ပိုမိုရှည်လာခြင်းကို မှုခ်မှု လုပ်သော အင်ဂျင်နီယာများက အစီရင်ခံပါသည်။ လျှပ်စစ်ပေါက်ကွဲမှု ကြာချိန်တွင် ဖြစ်ပေါ်လာသည့် ပြောင်းလဲမှုများကို စံသတ်မှတ်ထားသည့် ထိန်းချုပ်မှု စမ်းသပ်မှု ပုံစံများဖြင့် အကဲဖြတ်နိုင်ပါသည်။ သို့သော် အတွေ့အကြုံရှိသည့် အင်ဂျင်နီယာများအများစုသည် အစိတ်အပိုင်းများနှင့် ၎င်းတို့၏ အပြုအမှုများကို ရက်အတန်ကြာ စောင်းကြည့်ခြင်းဖြင့် ထိုလက္ခဏာများကို စိတ်ထဲတွင် မှတ်သားနေကြပါသည်။

ဗာကျူမ် စာက်ကူးစ် ဘရိတ်ကာ လုပ်ဆောင်မှုတွင် ဆက်သွယ်မှု ပျက်စီးမှုနှင့် လျှပ်စစ် အသက်တာ

အပိတ်အရှောက်တစ်ခုစီတွင် ဆုံးရှုံးသည့် အမေးအမှန်အကန်မှ ရရှိသည့် အချက်အလက်များ - စက်ယန္တရား ၃၀,၀၀၀ ကျော် အကြိမ်အရေအတွက်ဖြင့် စမ်းသပ်ထားသည့် အချက်အလက်များနှင့် ထိန်းသိမ်းမှုမလိုသည့် ဒီဇိုင်းအတွက် အကျိုးသက်ရောက်မှုများ

၁၉၈၀ ပုံနှိပ်မှုများအတွင်းမှ ပထမဆုံးအကြိမ်အဖြစ် ထိတ်တွေ့မှုပစ္စည်းများတွင် မှီခိုသည့် နောက်ဆုံးပေါ်ဖွံ့ဖေါ်ရေးမှုများက ဗာကျူမ် စီးရူးကြောင်းဖွင့်သည့် ကိရိယာများ၏ အကောင်အယောင်ကို အများအားဖြင့် မြှင့်တင်ပေးခဲ့သည်။ ကြေးနီ-ကရိုမီယမ် အသုံးပြုထားသည့် အသုံးပြုမှုများနှင့် အက်စီယယ် သံလိုက်ကွင်း နည်းပညာတွေ့ရှိမှုများက စမ်းသပ်ခန်းအတွင်း အလေးချိန်ဖော်ပြမှုများအရ တစ်ခါတည်း ဖွင့်သည့်အခါ အမေးအဖြေများသည် မိုက်ခရိုဂရမ် ၅၀ ခန့် ဆုံးရှုံးမှုဖြစ်ပြီး စီးရူးကြောင်းဖွင့်သည့် ကိရိယာ၏ အများဆုံး စွမ်းအားဖော်ပြမှုအတွင်း ၃၀,၀၀၀ ကြိမ် အသုံးပြုပြီးနောက် ထိတ်တွေ့မှုများတွင် ၃ မီလီမီတာထက် ပိုမိုမှုန်းမှုများ မရှိပါ။ ထို့ကြောင့် စီးရူးကြောင်းဖွင့်သည့် ကိရိယာ၏ ဒီဇိုင်းကို ထိတ်တွေ့မှုများကို သတ်မှတ်ထားသည့် အကန့်အသတ်များအတွင်း အသုံးပြုပါက နှစ်များစွာကြာအောင် ထိန်းသိမ်းမှုမလိုဘဲ အလုပ်လုပ်နိုင်သည့် ပုံစံဖြင့် ပုံစေးနိုင်ပါသည်။ စက်မှုလုပ်ငန်းကွန်ရက်များသည် ထိတ်တွေ့မှုပစ္စည်းများ၏ ဆုံးရှုံးမှုကို စီးရူးကြောင်းဖွင့်သည့် ကိရိယာ၏ ကြိုတင်ခန့်မှန်းထားသည့် ပျက်စီးမှုနှင့် ဆက်စပ်ဖော်ပြရေးသို့ ရွှေ့ပေးခဲ့ပါသည်။ ထို့ကြောင့် အသုံးပြုသည့် လုပ်ငန်းများသည် ထိတ်တွေ့မှုများကို စီးရူးကြောင်းဖွင့်သည့် ကိရိယာ၏ အချိန်ကာလအတွင်း ပုံမှန်အတိုင်း အစားထိုးရန် စိုးရိမ်မှုမရှိဘဲ ဗာကျူမ် စီးရူးကြောင်းဖွင့်သည့် ကိရိယာများကို အသုံးပြုနိုင်ပါသည်။ စမ်းသပ်ခန်းများတွင် စမ်းသပ်မှုများနှင့် လုပ်ငန်းခွင်တွင် တပ်ဆင်မှုများ၊ အထူးသဖြင့် အမြဲတမ်း စိုထောင်မှုများများရှိသည့် ကမ်းရိုးတန်းဒေသများတွင် တပ်ဆင်မှုများက နှစ်စဥ် မီလီမီတာ ၀.၁ ခန့် ပျက်စီးမှုနှုန်းကို ပြသခဲ့ပါသည်။ ထိုနှစ်စဥ် ပျက်စီးမှုနှုန်းသည် စမ်းသပ်ခန်းများတွင် ခန့်မှန်းထားသည့် ပျက်စီးမှုနှုန်းနှင့် နှိုင်းယှဉ်နိုင်ပါသည်။

ဖီလ်ဒ် အီမစ်ရှင် အာနယ်လစ်စ်မှတဆင့် ထိတွေ့မှု ပျက်စီးမှု စောင်းကြည့်ခြင်း

ဗာကျူမ် စားကပ်ခလုတ်များ၏ စွမ်းဆောင်ရည်ကို မျှော်မှန်းရန်အတွက် မြင်သာသည့် ပျက်စီးမှုများ ဖြစ်ပေါ်မလာမီ အတော်များများကြိုတင် စောင်းကြည့်နိုင်ပါသည်။ ထို့အပြင် ထိုကြိုတင်စောင်းကြည့်မှုများသည် ထိန်းသိမ်းရေးလုပ်ငန်းများကို စီစဥ်ရာတွင် အသုံးဝင်ပါသည်။ ပုံမှန်အားဖြင့် အသုံးပြုမှုကြောင့် ဖြစ်ပေါ်လာသည့် ပျက်စီးမှုများသည် မျက်နှာပုံပေါ်တွင် မျက်စိဖြင့် မြင်သာသည့် အက်ကြောင်းများ သို့မဟုတ် မျက်နှာပုံများ ပုံစံပေါ်လာစေပြီး လျှပ်စီးကြောင်းများတွင် အထောက်အထားများ ပေါ်ပေါက်စေပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ စမ်းသပ်မှုများအနက် တစ်ခုတွင် စားကပ်ခလုတ်သည် ၎င်း၏ အမှတ်အသားပေးထားသည့် ဗို့အား၏ ၈၀ ရှိ ၈၀% ခန့်တွင် အလုပ်လုပ်နေစဉ် ၁၀ မိုက်ခရိုအမ်ပီယာ (microamps) ထက် ပိုမိုများပါသည်။ ထိုလျှပ်စီးကြောင်းများ တိုးပေါ်လာမှုများသည် ထိတ်ခိုက်မှုများ မျက်စိဖြင့် မြင်သာလာမှုများ ဖြစ်ပေါ်မလာမီ အတော်များများကြိုတင်ဖြစ်ပေါ်လာပါသည်။ လျှပ်စီးကြောင်းများ တိုးပေါ်လာမှုများသည် စားကပ်ခလုတ်များအတွက် ထိန်းသိမ်းရေးလုပ်ငန်းများ စီစဥ်ရာတွင် အခွင့်အရေးကောင်းတစ်ခု ဖြစ်ပါသည်။ ကျွန်ုပ်တို့၏ စမ်းသပ်မှုများအရ လျှပ်စီးကြောင်းများကို ကြိုတင်စောင်းကြည့်ခြင်းဖြင့် မြင်သာသည့် ပျက်စီးမှုများ ဖြစ်ပေါ်မလာမီ ၁၂ လမှ ၁၈ လအထိ ကြိုတင်သိရှိနိုင်ပါသည်။ လျှပ်စီးကြောင်းဖတ်ချက်များသည် ထိတ်ခိုက်မှုများ၏ အခြေအနေကို ရှင်းလင်းစွာ ဖော်ပြပေးပါသည်။ ၅ မိုက်ခရိုအမ်ပီယာ (microamps) အောက်တွင် ဖတ်ချက်များသည် အန်တီန်များ ကောင်းမော်ပါသည်။ သို့သော် ဖတ်ချက်များသည် အလွန်မျှော်လင်းစွာ ပြောင်းလဲနေပါက ထိတ်ခိုက်မှုများ၏ မျက်နှာပုံများတွင် ပျက်စီးမှုများ ဖြစ်ပေါ်လာမည်ဖြစ်ပါသည်။ စားကပ်ခလုတ်များ၏ အကောင်းမွန်ဆုံး စွမ်းဆောင်ရည်ကို အောင်မြင်စေရန်အတွက် ပျက်စီးမှုများကို စွမ်းဆောင်ရည်ပျက်စီးမှုများ ဖြစ်ပေါ်မလာမီ အမျှော်လင်းစွာ ဖြေရှင်းပေးရန် လိုအပ်ပါသည်။

မထိန်းသောင်းသော ဗာကျူမ် စားကပ် ခလုတ်စနစ်များတွင် ယန္တရားဆိုင်ရာ နှင့် အပူကာကွယ်ရေး ပျက်စီးမှုများ

ယန္တရားဆိုင်ရာ ခံနိုင်ရည်နှင့် လျှပ်စစ်ဆိုင်ရာ ခံနိုင်ရည်သည် အဓိပ္ပာယ်အားဖြင့် ကွဲပါသည်။ ယန္တရားဆိုင်ရာ ခံနိုင်ရည်သည် ပုံမှန်အားဖြင့် စပရင်များနှင့် လင်က်ခ်များကဲ့သို့သော အစိတ်အပိုင်းများသည် ပုံပေါ်လာသော ပျက်စီးမှုများနှင့် ပြဿနာများ စတင်ဖြစ်ပေါ်လာရန် အထိ အကြိမ်ပေါင်းများစွာ အသုံးပြုနိုင်ခြင်းကို ရည်ညွှန်းပါသည်။ ထိုနှင့်မတူဘဲ လျှပ်စစ်ဆိုင်ရာ ခံနိုင်ရည်သည် အများအားဖြင့် အပေါ်ယံပေါ်မှုများ (contact erosion) ကြောင့် စွမ်းဆောင်ရည် ကျဆင်းလာရန် အထိ ကွန်တက်များသည် မည်မျှအကြိမ် အက်ဖ်ဖ်က်တ်များကို ခံနိုင်ရည်ရှိသည်ကို တိုင်းတာခြင်းဖြစ်ပါသည်။ ဗက်ကျူမ် စားကပ်ခ်ဘရိတ်ကာ (vacuum circuit breakers) တွင် ယန္တရားဆိုင်ရာ ခံနိုင်ရည်နှင့် လျှပ်စစ်ဆိုင်ရာ ခံနိုင်ရည်အကြား အထူးသဖြင့် စိုးရိမ်ဖွယ်ရာ ကွာဟမှုတစ်မျှော်မျှော်ရှိပါသည်။ ဥပမါအားဖြင့် ယန္တရားဆိုင်ရာ အစိတ်အပိုင်းများသည် အကြိမ်ပေါင်း ၁၀,၀၀၀ ကျော်အထိ အသုံးပြုနိုင်သော်လည်း လျှပ်စစ်ဆိုင်ရာ အစိတ်အပိုင်းများသည် မြင့်မားသော လျှပ်စစ်စီးကြောင်း ဖြတ်တောက်မှု ၂၀ မှ ၃၀ ကြိမ်သာ ပြုလုပ်ပြီးနောက် မှန်ကန်စွာ အလုပ်မလုပ်တော့သည်ကို တွေ့ရပါသည်။ ဤသည်မှာ စားကပ်ခ်ဘရိတ်ကာ၏ ယန္တရားဆိုင်ရာ အစိတ်အပိုင်းများကို ဗက်ကျူမ် အင်တာပတ်တာများ (vacuum interrupters) သည် လျှပ်စစ်စီးကြောင်းကို ခံနိုင်ရည်ရှိသည်ထက် ပိုများစွာ အကြိမ်ပေါင်းများစွာ အသုံးပြုနိုင်သည့်အတွက် ဖြစ်ပါသည်။ သုတေသနများအရ မှန်ကန်စွာ ထိန်းသိမ်းမှုမရှိသော ယန္တရားဆိုင်ရာ ပျက်စီးမှုများကြောင့် အများအားဖြင့် ၁၅ ရှုံးမှ ၂၅ ရှုံးအထိ အစိတ်အပိုင်းများသည် မှန်ကန်စွာ မတ်မတ်မှုမရှိခြင်း၊ ကပ်နေခြင်း သို့မဟုတ် မလှုပ်ရှားနိုင်ခြင်းတို့ ဖြစ်ပေါ်လာနိုင်ပါသည်။ ထိုသို့သော အခြေအနေများသည် စားကပ်ခ်ဘရိတ်ကာ၏ လျှပ်စစ်ဆိုင်ရာ အစိတ်အပိုင်းများတွင် ပျက်စီးမှု လက္ခဏာများ မပေါ်ပေါ်သေးသည့်အတွက် ဖြစ်ပေါ်လာနိုင်ပါသည်။ ထို့ကြောင့် မကုစ်မှုပေးသော ယန္တရားဆိုင်ရာ အစိတ်အပိုင်းများသည် စားကပ်ခ်ဘရိတ်ကာ စနစ်တစ်ခုလုံး၏ ယုံကြည်စိတ်ချရမှုကို အလွန်အမင်း ထိခိုက်စေနိုင်ပါသည်။

အစိတ်အပိုင်းများ အသက်များလာခြင်းနှင့် ဆက်စပ်သော ပျက်စီးမှု ပုံစံများ - သေးငယ်သော ချိတ်ဆက်မှုများ၊ အသက်များလာသော စပရင်များနှင့် အထုံးအပေါ်တွင် အသက်များလာသော ပေါ်လီမာများ

အထောက်အပံ့မှုများကို နောက်သို့ ရှောင်ရှားခြင်းဖြင့် ဗာကျူမ်စားကွက်ဖွင့်သည့် ကိရိယာများသည် မျှော်လင့်ထားသည့်အတိုင်း အလွန်စေးနောက်ကျ၍ ပျက်စီးလေ့ရှိပါသည်။ အဓိကအားဖဲ့ အကြောင်းရင်းသုံးများမှာ သံခေါင်းတက်ခြင်း၊ အသက်များပြားလာသည့် စပရင်များနှင့် အကာအကွယ်ပေးမှု ပျက်စီးခြင်းတို့ဖြစ်ပါသည်။ အချိန်ကြာလာသည်နှင့်အမျှ ချိတ်ဆက်မှုများသည် သံခေါင်းတက်လာပြီး သံခေါင်းတက်ခြင်းကြောင့် ပိုမိုများပြားလာသည့် ပွန်းစားမှုများဖြစ်ပါသည်။ အလွန်မိုးမော်က်သည့် ပွန်းစားမှုများသည် လုပ်ဆောင်မှုအမြန်နှုန်းကို သိသိသာသာ နှေးကွေးစေပါသည်။ ထို့အပြင် အဖြစ်များသည့် အကြောင်းရင်းများကို ဖယ်ရှားရန် မှုန်းနေသည့် အခြေအနေများကို ဖြစ်ပေါ်စေနိုင်ပါသည်။ အကြိမ်ကြိမ်အသုံးပြုသည့် စပရင်များသည် သူတို့၏ ဖိအားကို ဆုံးရှုံးပါသည်။ ထိုကြောင့် ကိရိယာသည် လုပ်ဆောင်မှုအတွင်း ထိတ်လှုပ်စရာ အကွေးများကို ဖြစ်ပေါ်စေရန် လုံလောက်သည့် အားဖြင့် ပိတ်နိုင်ခြင်းမရှိပါသည်။ ထိုအကွေးများကို ကိရိယာများ မျှော်လင့်ထားသည့်အတိုင်း နောက်ကျ၍ ပိတ်နိုင်ရန် အကူအညီဖေးမှုပေးသည်ဟု လူအများက ယုံကြည်ကြပါသည်။ အံ့အားသင့်စရာဖြစ်သည့်အတိုင်း အကာအကွယ်ပေးမှုအတွက် အသုံးပြုသည့် ပေါလီမာအခြေပြုပစ္စည်းများသည်လည်း လုပ်ဆောင်မှုပတ်ဝန်းကျင်ကြောင့် ထိခိုက်မှုများကို ခံရပါသည်။ အတွင်းပိုင်းတွင် အကာအကွယ်ပေးမှုပေါလီမာများသည် အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုများနှင့် စိုထုံးမှုများကို ခံရပါသည်။ ထိုအရာများကြောင့် ပေါလီမာများ၏ လျှပ်စီးဖိအားကို ခံနိုင်ရည်ရှိမှုသည် ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာအားဖဲ့ ပျက်စီးလေ့ရှိပါသည်။ ထို့အပြင် အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုများနှင့် စိုထုံးမှုများကြောင့် ကွဲအက်မှုများနှင့် လျှပ်စီးဖိအားကို လွန်ကျော်သည့် လမ်းကြောင်းများ (tracking) ဖြစ်ပေါ်လာပါသည်။ ထိုအရာများကြောင့် ရှေးနောက်မှုန်းများ ပိုမိုများပြားလာပါသည်။ စက်မှုလုပ်ငန်းများမှ ထုတ်ပြန်သည့် အစီရင်ခံစာများအရ ဗာကျူမ်စားကွက်ဖွင့်သည့် ကိရိယာများကို မျှော်လင့်ထားသည့် အသက်တာ၏ ၁၀ နှစ်မှ ၁၅ နှစ်အတွင်း အထောက်အပံ့မှုများ ပြုလုပ်ရန် လိုအပ်ပါသည်။ အထောက်အပံ့မှုများ မပြုလုပ်သည့် ဗာကျူမ်စားကွက်ဖွင့်သည့် ကိရိယာများတွင် ဖြစ်ပေါ်သည့် ပျက်စီးမှုများ၏ ၇၀% သည် ထိုအချိန်ကာလအတွင်း ဖြစ်ပေါ်လေ့ရှိပါသည်။

အခြေအနေအလိုက် စောင်းကြည့်ခြင်း - ပထမဆုံးသော အမှန်တကယ် ပုံမှန်ထိန်းသိမ်းမှုမလိုသော ဗာကျူမ် စီးရွက် ဘရိတ်ကာ

အခြေအနေအလိုက် စောင်းကြည့်ခြင်း (CBM) သည် ပုံမှန်မဟုတ်သော ရောဂါရှာဖွေရေး စနစ်များကို အသုံးပြု၍ ထိန်းသိမ်းရေးလုပ်ငန်းများကို အပြည့်အဝ ပြောင်းလဲပေးပါသည်။ ရောဂါရှာဖွေရေး စနစ်များသည် ဗာကျူမ် စီးကွင်း ဖောက်ပေါက်ခြင်း ကိရိယာများ အလုပ်လုပ်ပုံကို စောင်းကြည့်ပြီး ကိရိယာများကို လက်တွေ့ ဝင်ရောက်စွက်ဖောက်ရန် မလိုအပ်ပါ။ ပုံမှန်အလုပ်လုပ်နေစဉ် အချို့သော နည်းပညာများ (ကွိုင်လ် လျှပ်စီးကြောင်း လက်မှတ် ဆန်းစစ်ခြင်း) သည် အစိတ်အပိုင်းများ တဖုတ်ဖုတ် ပျက်စီးလာပုံနှင့် အားနည်းလာပုံကို စောင်းကြည့်ပါသည်။ အပူခါးသို့မဟုတ် အပူခွင်း စောင်းကြည့်ခြင်းသည်လည်း အရေးကြီးမှုများ အလွန်ပြင်းထန်လာမီ ထိတ်လန်းမှုများကို ဖော်ထုတ်ပေးနိုင်ပါသည်။ “အဆင့်မြင့် အခြေအနေအလိုက် စောင်းကြည့်ခြင်း၊ လှုပ်ရှားမှု စောင်းကြည့်ခြင်းနှင့် ရောဂါရှာဖွေရေး နည်းလမ်းများဖြင့် အလယ်အလတ် ဗို့အား ဗာကျူမ် စီးကွင်း ဖောက်ပေါက်ခြင်း ကိရိယာများကို ဆန်းစစ်ခြင်း” ဟူသော သုတေသန စာတမ်းတွင် CBM နည်းလမ်းကို အသုံးပြုခြင်းဖြင့် မျှော်လင့်မထားသော ပျက်စီးမှုများကို ၄၀ ရှိသည့် အချိန်အထိ လျော့နည်းစေနိုင်ကြောင်း ဖော်ပြထားပါသည်။ ပျက်စီးမှုအဆင့်သို့ မရောက်မီ ပြဿနာများကို အချိန်မီ ဖြေရှင်းပေးခြင်းဖြင့် ကြီးမားသော ပြဿနာများကို ကာကွယ်ပေးနိုင်ပါသည်။ ဗာကျူမ် ဖိအားနှင့် အလုပ်လုပ်သော စက်ကွင်း အချက်အလက်များကို ကြိုတင်ခန့်မှန်းခြင်း နည်းပညာများဖြင့် အစိတ်အပိုင်းတစ်ခု၏ ကျန်ရှိသော အသက်တမ်းကို အကဲဖြတ်ပါသည်။ ထိန်းသိမ်းရေး လုပ်ငန်းများ မလိုအပ်သော အလုပ်လုပ်မှုသည် စံချိန်စံညွှန်းအတိုင်း အကောင်းမွန်ဆုံး အစိတ်အပိုင်းများ အမြဲတမ်း ရှိနေခြင်းကို မဆိုလိုပါ။ အသေးစားနှင့် အလတ်စား ပြဿနာများကို ပိုမိုကြီးမားသော ပြဿနာများအဖြစ် ပြောင်းလဲသွားမီ အချိန်မီ ဖြေရှင်းပေးရန် လိုအပ်ပါသည်။ ဗာကျူမ် အစိမ်းရောင် အားကောင်းမှုနှင့် ထိတ်လန်းမှုများ ပျက်စီးမှု အချိန်အထိ ပုံမှန် အလုပ်လုပ်မှု စံချိန်စံညွှန်းများနှင့် နှိုင်းယှဉ်စောင်းကြည့်ခြင်းဖြင့် စနစ်များ အလိုအလျောက် အလုပ်လုပ်နိုင်ရန် လိုအပ်သော ယုံကြည်စိတ်ချရမှုကို CBM က ပေးစေပါသည်။

မေးလေ့ရှိသောမေးခွန်းများ

ဗက်ကျူမ် စီးရီး ဘရိတ်ကာများတွင် စီရမစ်မှ သတ္တုသို့ ချိတ်ဆက်ခြင်း၏ အဓိက အကျေးနော်မှာ အဘယ်နည်း။

၎င်း၏ အဓိက အကျေးနော်မှာ ဂလပ်စ်ဖြင့် ပိတ်ထားသော အစားထိုးများနှင့် နှိုင်းယှဉ်လျှင် ဟီလီယမ် ယိမ်းစိမ်းမှုနှုန်း သိသိသာသာ လျော့နည်းခြင်းဖြစ်ပြီး ထို့ကြောင့် စီးရီး ဘရိတ်ကာ၏ အသုံးပေးနိုင်သည့် ကာလနှင့် အပူခံနိုင်ရည် တိုးတက်လာခြင်းဖြစ်သည်။

ထိတ်တွေ့မှုများ ပျက်စီးလာသည့်အခါ ဖီးလ်ဒ် အီမစ်ရှင် (field emission) သည် ပထမဦးဆုံး ပေါ်ပေါက်လာပါသည်။ အီလက်ထရွန် အီမစ်ရှင်များသည် ထိတ်တွေ့မှုများကို ပုပ်စေနိုင်ပါသည်။ အီလက်ထရွန် အီမစ်ရှင်များကို စောစောပိုင်းတွင် စောင်းကြည့်ခြင်းဖြင့် ပျက်စီးမှုကို စောစောပိုင်းတွင် ရှာဖွေတွေ့ရှိနိုင်ပါသည်။

ဗက်ကျူမ် စီးရီး ဘရိတ်ကာများတွင် အခြေအနေအလိုက် စောင်းကြည့်ခြင်း (CBM) ၏ အရေးပါမှုမှာ အဘယ်နည်း။

ဗက်ကျူမ် စီးရီး ဘရိတ်ကာများတွင် အခြေအနေအလိုက် စောင်းကြည့်ခြင်း (CBM) ၏ အဓိက အကျေးနော်မှာ အချိန်နှင့်တစ်ပါက် ရှုမ်းခြင်း (real-time diagnostics) ဖြစ်သည်။ အရေးကြီးသည့် ပျက်စေးမှုများ ဖြစ်ပေါ်မှုမှီ ဖြစ်နိုင်ခြေရှိသည့် ပြဿနာများကို ရှုမ်းခြင်းဖြင့် ဖေါ်ထုတ်နိုင်ပါသည်။ ဤလုပ်ငန်းစဉ်သည် ရုတ်တရက် ပျက်စေးမှုများ ဖြစ်ပေါ်လာနိုင်ခြေကို လျော့နည်းစေပါသည်။